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更新時間：2025-11-15
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STD-D-2低頻介電常數及介質損耗測試系統
電子玻璃高頻介質損耗和介電常數是如何測試試驗范圍：STD-D-2低頻介電常數及介質損耗測試系統由測試裝置（夾具）、STD-D-2型介電常數測試主機、組成。依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動測量的最佳解決方案。
一 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數是如何測試的本設備適用標準：
1 GBT 1409-2006 測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長存內)下電容率和介質損耗因數的推薦方法
2 GBT 1693-2007 硫化橡膠 介電常數和介質損耗角正切值的測定方法
3 ASTM-D150-介電常數測試方法
4 GB9622.9-88/SJT 11043-1996 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數的測試方法
二 電子玻璃高頻介質損耗和介電常數是如何測試的介電常數/介質損耗測試主機：
1 STD-D-2參數
測量功能 | |||
測試頻率 | 10 Hz－2MHz，10mHz分辨率 | ||
測試參數 | |Z|, |Y|, C, L, X, B, R, G, D, Q, θ,DCR | ||
基本測量準確度 | 0.05% | ||
等效電路 | 串聯, 并聯 | ||
數學功能 | 絕對值偏差, 百分比偏差 | ||
量程方式 | 自動, 保持, 手動選擇 | ||
觸發方式 | 內部, 手動, 外部, 總線 | ||
測量速度（≥1kHz） | 快速: 80次/秒, 中速: 30次/秒, 慢速: 3次/秒 | ||
平均次數 | 1—255 | ||
延時時間 | 0—60s, 以1ms步進 | ||
校準功能 | 開路/ 短路/ 負載 | ||
測試端配置 | 五端 | ||
列表掃描 | 10點列表掃描功能 | ||
顯示方式 | 直讀，Δ，Δ%，V/I（被測電壓/電流監視） | ||
顯示器 | 800×480 RGB7英寸16: 9 TFT LCD顯示器 | ||
測試信號 | |||
輸出阻抗 | 30 Ω, 100 Ω, 50Ω, 10 /CC可選擇 | ||
測試信號電平 | 正常： 5mV-2V, 1mV步進 | ||
偏置源 | 內部 | 0V, 1.5V, 2V | |
選配 | UC6802A：±10V（±100mA）直流偏置電流 | ||
UC6802B：0-1A直流偏置電流 | |||
顯示范圍 | |||
|Z|, R, X | 0.01mΩ —99.9999 MΩ | ||
DCR | 0.01 mΩ —99.9999 MΩ | ||
|Y|, G, B | 0.00001µS —99.9999 S | ||
C | 0.00001 pF —9.9999 F | ||
L | 0.00001 µH —9999.99 H | ||
D | 0.00001 —9.9999 | ||
Q | 0.00001 —9999.9 | ||
θ(DEG) | -179.999o —179.999 o | ||
θ(RAD) | -3.14159 —3.14159 | ||
其他 | |||
比較器功能 | 十檔：（九檔合格，一檔不合格），另有一個附屬檔AUX | ||
存儲器 | 10組內部儀器設定供存儲/調用 | ||
接口 | 標配RS232C、HANDLER、USB HOST，耳機接口 | ||
三 （數顯）介電常數εr和介質損耗因數tanδ測試裝置：
固體：材料測量直徑 Φ50mm/Φ38mm 可選；厚度可調 ≤15mm （二選一）
液體：測量極片直徑 Φ38mm； 液體杯內徑Φ48mm 、深7mm（選配）
四 STD-D-2低頻介電常數及介質損耗測試系統主要測試材料:
1 絕緣導熱硅膠,石英晶玻璃,陶瓷片,薄膜,OCA光學膠,環氧樹脂材料,塑料材料,FR4 PCB板材, PA尼龍/滌綸,PE聚乙烯,PTFE聚四氟乙烯,PS聚苯乙烯,PC聚碳酸旨,PVC,PMMA等
當前位置：
砂漿試驗儀器
